?三箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱有三個(gè)試驗(yàn)空間，分為高溫區(qū)、低溫區(qū)和測(cè)試區(qū)，也稱(chēng)待測(cè)品不動(dòng)式溫度沖擊試驗(yàn)箱，試樣放在測(cè)試箱內(nèi)進(jìn)行高低溫沖擊試驗(yàn)，模擬產(chǎn)品經(jīng)過(guò)溫度的急劇變化造成的物理變化。用于檢測(cè)根據(jù)元器件、部件及設(shè)備疲勞損傷引起的失效。產(chǎn)品性能符合MIL、IEC、GB、JIS、JEDEC等各種和企業(yè)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，是應(yīng)力篩選試驗(yàn)和環(huán)境適應(yīng)性驗(yàn)證的*手段。

三箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱標(biāo) 準(zhǔn)：

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫；GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫；GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則；GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)；GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)；GJB 150.5A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)；

SETH能夠提供有效容積50L至1000L的SET或SEL系列的溫度沖擊標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)箱，也可以根據(jù)用戶(hù)需求定制更大容積的沖擊試驗(yàn)箱。該系列根據(jù)用戶(hù)場(chǎng)地和不同的試驗(yàn)需求分為水平結(jié)構(gòu)、垂直結(jié)構(gòu)以及三箱式，該系列具備提供客戶(hù)一箱多用功能，可以滿足GJB150.5-2009中的兩種試驗(yàn)方法。

沖擊溫度范圍：-65℃~+200℃

溫度恢復(fù)時(shí)間：≤ 5min

溫度切換時(shí)間：≤10s

型號(hào)說(shuō)明
SET：產(chǎn)品系列號(hào)      A\B\C：工作室容積（單位：L）

SEL：結(jié)構(gòu)方式：L表示兩箱提籃式     T：結(jié)構(gòu)方式：T表示三箱式

3\4\5表示溫度沖擊范圍；